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Título : Análisis experimental de la recuperación perfecta de patrones en la memoria Hopfield
Autor : Diaz de Leon Santiago, Juan Luis
Yañez Marquez, Cornelio
Palabras clave : Pattern perception
Image analysis
Fecha de publicación : 2003
Editorial : Instituto Politécnico Nacional. Centro de Investigación en Computación
Resumen : En este informe técnico se presenta un estudio teórico y experimental, respecto de las recuperación perfecta de patrones bivaluados n-dimensionales en la Memoria Asociativa Hopfield, dado un conjunto fundamental para la fase de aprendizaje y un conjunto de patrones de prueba para la fase de recuperación de patrones. Con esta publicación, el Grupo de Robótica y Análisis de Imágenes (GRAI) del Centro de Investigación en Computación del Instituto Politécnico Nacional, continúa sus actividades científicas encaminadas a evidenciar las bondades del nuevo enfoque asociativo para reconocimiento y clasificación de patrones, creado en 2002 por miembros del GRAI.
Descripción : Maestría en Ciencias de la Computación
URI : http://www.repositoriodigital.ipn.mx/handle/123456789/9010
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