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http://repositoriodigital.ipn.mx/handle/123456789/10888| Título : | Aplicación de la técnica fotoacústica a la medición de propiedades ópticas y de transporte en sistemas basados en capas delgadas semiconductoras |
| Palabras clave : | tecnica fotoacustica capas delgadas semionductoras |
| Fecha de publicación : | 16-ene-2013 |
| Editorial : | Instituto Politecnico Nacional |
| Descripción : | Se ha demostrado que la técnica fotoacústica (FA) permite la medición de propiedades ópticas y de transporte en semiconductores. En este trabajo describimos los principales mecanismos de generación de la señal fotoacústica, el sistema experimental que utilizaremos en nuestro trabajo futuro y los resultados de algunas mediciones preliminares realizadas con el objetivo de familiarizarnos con la técnica. Articulo en extenso en memoria de simposio. Instituto Politecnico Nacional. CONACYT. |
| URI : | http://www.repositoriodigital.ipn.mx/handle/123456789/10888 |
| Otros identificadores : | 978-607-414-014-9 http://hdl.handle.net/123456789/397 |
| Aparece en las colecciones: | Doctorado |
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