Aplicación de la técnica fotoacústica a la medición de propiedades ópticas y de transporte en sistemas basados en capas delgadas semiconductoras

Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: http://repositoriodigital.ipn.mx/handle/123456789/10888

Registro completo de metadatos

Campo DC	Valor	Lengua/Idioma
dc.creator	Santoyo Morales, J. G.	-
dc.creator	Marin, E.	-
dc.date	2012-03-26T20:29:01Z	-
dc.date	2012-03-26T20:29:01Z	-
dc.date	2008-06	-
dc.date.accessioned	2013-01-16T10:47:53Z	-
dc.date.available	2013-01-16T10:47:53Z	-
dc.date.issued	2013-01-16	-
dc.identifier	978-607-414-014-9	-
dc.identifier	http://hdl.handle.net/123456789/397	-
dc.identifier.uri	http://www.repositoriodigital.ipn.mx/handle/123456789/10888	-
dc.description	Se ha demostrado que la técnica fotoacústica (FA) permite la medición de propiedades ópticas y de transporte en semiconductores. En este trabajo describimos los principales mecanismos de generación de la señal fotoacústica, el sistema experimental que utilizaremos en nuestro trabajo futuro y los resultados de algunas mediciones preliminares realizadas con el objetivo de familiarizarnos con la técnica.	-
dc.description	Articulo en extenso en memoria de simposio.	-
dc.description	Instituto Politecnico Nacional. CONACYT.	-
dc.language	es	-
dc.publisher	Instituto Politecnico Nacional	-
dc.subject	tecnica fotoacustica	-
dc.subject	capas delgadas semionductoras	-
dc.title	Aplicación de la técnica fotoacústica a la medición de propiedades ópticas y de transporte en sistemas basados en capas delgadas semiconductoras	-
dc.type	Article	-
Aparece en las colecciones:	Doctorado

Ficheros en este ítem:

Fichero	Descripción	Tamaño	Formato
I STA p33.pdf		152.89 kB	Adobe PDF	Visualizar/Abrir

El Instituto Politécnico Nacional