El Instituto Politécnico Nacional
Contribuye al desarrollo económico y social de la nación, a través de la formación integral de personas competentes; de la investigación, el desarrollo tecnológico y la innovación. Además tiene reconocimiento internacional por su calidad e impacto social.
Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem:
http://repositoriodigital.ipn.mx/handle/123456789/8609| Título : | Structural studies of ZnS thin films grown on GaAs by RF magnetron sputtering |
| Autor : | Delgado Macuil, Raul J. |
| Palabras clave : | Sputtering Nanoparticles ZnS XRD AFM |
| Fecha de publicación : | 27-nov-2012 |
| Resumen : | X-ray diffraction (XRD) studies of ZnS thin films grown on GaAs (001) substrates at different temperatures by rf magnetron sputtering have been carried out using CuKa radiation. XRD analysis reveals that deposited films below 335 C, assumed the zinc blend structure. Samples annealed at above 335 C showed mixed phases of the zinc blend and wurzite structures. Information about crystallite size is obtained from (001), (111) and (104) diffraction peaks. The average crystallite size of the film was determined to be w 32 nm using the Scherrer formula |
| Descripción : | article |
| URI : | http://www.repositoriodigital.ipn.mx/handle/123456789/8609 |
| Aparece en las colecciones: | Artículos |
Ficheros en este ítem:
| Fichero | Descripción | Tamaño | Formato | |
|---|---|---|---|---|
| 2010_Vacuum_Structural_studies_of_ZnS.pdf | 83.72 kB | Adobe PDF | Visualizar/Abrir |
Los ítems de DSpace están protegidos por copyright, con todos los derechos reservados, a menos que se indique lo contrario.