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http://repositoriodigital.ipn.mx/handle/123456789/11291| Título : | Desarrollo de Software para Mediciones en Microscopía Electroquímica sobre Materiales Ferroeléctricos. |
| Palabras clave : | materiales ferroelectricos |
| Fecha de publicación : | 16-ene-2013 |
| Editorial : | Instituto Politecnico Nacional |
| Descripción : | En este trabajo se presentan los avances y resultados del
diseño e implementación del software de control de un
sistema de medición para Microscopía Electroquímica (
SECM por sus siglas en inglés) que se está construyendo
para realizar caracterizaciones sobre películas de materiales
ferroeléctricos. El software fue desarrollado en LabView
v8.0 y en un lenguaje de control propio de la tarjeta
controladora de movimiento Galil DMC-2133[1] utilizada
en el sistema. Articulo en extenso en memoria de simposio Instituto Politecnico Nacional |
| URI : | http://www.repositoriodigital.ipn.mx/handle/123456789/11291 |
| Otros identificadores : | 978-607-414-022-4 http://hdl.handle.net/123456789/805 |
| Aparece en las colecciones: | Doctorado |
Ficheros en este ítem:
| Fichero | Descripción | Tamaño | Formato | |
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