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http://repositoriodigital.ipn.mx/handle/123456789/11663| Título : | Crecimiento y caracterización de películas delgadas de BaxSr1-xTiO3 |
| Palabras clave : | peliculas delgadas |
| Fecha de publicación : | 16-ene-2013 |
| Editorial : | Instituto Politecnico Nacional |
| Descripción : | Películas delgadas de BaxSr1-xTiO3 han sido depositadas sobre
sustratos de Pt/TiO2/SiO2/Si y cuarzo por RF sputtering con diferentes
radios de BaTiO3/SrTiO3. Las películas fueron depositadas
a 700 °C. La composición química fueron determinadas por
EDS, y los resultados muestran que x fue controlado con 0< x
< 1. La caracterización ferroeléctrica muestra que su respuesta
ferroeléctrica esta en función del parámetro x. Articulo en extenso en memoria de simposio Instituto Politecnico Nacional. |
| URI : | http://www.repositoriodigital.ipn.mx/handle/123456789/11663 |
| Otros identificadores : | 978-607-414-131-3 http://hdl.handle.net/123456789/1191 |
| Aparece en las colecciones: | Doctorado |
Ficheros en este ítem:
| Fichero | Descripción | Tamaño | Formato | |
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