ELÉCTRICA Y ELECTRÓNICA, PRESENTACIONES EN CARTEL ELEC-P01 CARACTERIZACIÓN ELÉCTRICA DE PELÍCULAS DELGADAS DE CdS:Mg POR EL MÉTODO DE CUATRO PUNTAS

Abstract

En este trabajo se presenta el estudio de las propiedades eléctricas de películas delgadas de CdS:Mg depositados por baño químico sobre substratos de vidrio. La caracterización eléctrica se realizó por el método de cuatro puntas, para lo cual se diseñó y construyó un portamuestras y un cabezal porta puntas, los cuales se conectaron a un par de electrómetros marca Keithley 6517B de alta impedancia, una fuente de corriente Keithley 6221 y un multímetro Keithley 2000. El portamuestras o base se construyó de hierro, y para el cabezal porta puntas se diseñó un circuito impreso que tiene cuatro puntas colocadas a una distancia de 1cm y 2.5 cm, para realizar mediciones de resistencia en hoja en configuración de Van Der Pauw. Las puntas son de alambre de Níquel. La serie de películas de CdS:Mg se prepararon variando la cantidad de Mg presente en la solución precursora. Las muestras se caracterizaron por difracción de rayos X para conocer su estructura cristalina. Las mediciones eléctricas fueron realizadas en oscuridad y con iluminación, como fuente de luz se utilizó una lámpara de halógeno de 50 watts y longitud de onda que va de los 300 a 800 nanómetros. Se realizaron curvas IV y se calcularon los valores de resistencia en hoja de todas las películas en función de la incorporación de Mg. El valor de la resistencia en oscuridad estuvo en el rango de 0.1 a 2 GΩ. Con los difractogramas de rayos X se encontró que el material presenta una estructura hexagonal.