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Campo DC Valor Lengua/Idioma
dc.contributor.authorDe Hoyos Bermea, Adalberto-
dc.date.accessioned2014-07-03T18:07:06Z-
dc.date.available2014-07-03T18:07:06Z-
dc.date.issued2014-01-27-
dc.identifier.urihttp://www.repositoriodigital.ipn.mx/handle/123456789/19273-
dc.description.abstractConferencia Magistral: "Rasgos Epistemológicos del Documento de Patente "es
dc.description.sponsorshipInstituto Politécnico Nacional. CIECASes
dc.language.isoeses
dc.publisherCentro de Investigaciones Económicas, Administrativas y Socialeses
dc.subjectEpistemologíaes
dc.subjectpatentees
dc.titleRasgos Epistemológicos de Documento de Patentees
dc.typeponenciaes
dc.description.especialidadEpistemologíaes
dc.description.tipojpges
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