Desarrollo de Software para Mediciones en Microscopía Electroquímica sobre Materiales Ferroeléctricos.

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Registro completo de metadatos

Campo DC	Valor	Lengua/Idioma
dc.creator	Guillen Rodriguez, J.	-
dc.creator	Zapata-Navarro, A.	-
dc.date	2012-03-28T02:49:45Z	-
dc.date	2012-03-28T02:49:45Z	-
dc.date	2008-12	-
dc.date.accessioned	2013-01-16T14:11:38Z	-
dc.date.available	2013-01-16T14:11:38Z	-
dc.date.issued	2013-01-16	-
dc.identifier	978-607-414-022-4	-
dc.identifier	http://hdl.handle.net/123456789/805	-
dc.identifier.uri	http://www.repositoriodigital.ipn.mx/handle/123456789/11291	-
dc.description	En este trabajo se presentan los avances y resultados del diseño e implementación del software de control de un sistema de medición para Microscopía Electroquímica ( SECM por sus siglas en inglés) que se está construyendo para realizar caracterizaciones sobre películas de materiales ferroeléctricos. El software fue desarrollado en LabView v8.0 y en un lenguaje de control propio de la tarjeta controladora de movimiento Galil DMC-2133[1] utilizada en el sistema.	-
dc.description	Articulo en extenso en memoria de simposio	-
dc.description	Instituto Politecnico Nacional	-
dc.language	es	-
dc.publisher	Instituto Politecnico Nacional	-
dc.subject	materiales ferroelectricos	-
dc.title	Desarrollo de Software para Mediciones en Microscopía Electroquímica sobre Materiales Ferroeléctricos.	-
dc.type	Article	-
Aparece en las colecciones:	Doctorado

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