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| Vista previa | Fecha de publicación | Título | Autor(es) |
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| 27-nov-2012 | FTIR and electrical characterization of a-Si:H layers deposited by PECVD at different boron ratios | López Gayou, Valentín | |
| 27-nov-2012 | FTIR and electrical characterization of a-Si:H layers deposited by PECVD at different boron ratios | Delgado Macuil, Raul J. |