Crecimiento y caracterización de películas delgadas de BaxSr1-xTiO3

Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: http://repositoriodigital.ipn.mx/handle/123456789/11663

Registro completo de metadatos

Campo DC	Valor	Lengua/Idioma
dc.creator	Marquez-Herrera, A.	-
dc.creator	Zapata-Navarro, A.	-
dc.date	2012-03-29T18:20:12Z	-
dc.date	2012-03-29T18:20:12Z	-
dc.date	2009-06	-
dc.date.accessioned	2013-01-16T16:35:53Z	-
dc.date.available	2013-01-16T16:35:53Z	-
dc.date.issued	2013-01-16	-
dc.identifier	978-607-414-131-3	-
dc.identifier	http://hdl.handle.net/123456789/1191	-
dc.identifier.uri	http://www.repositoriodigital.ipn.mx/handle/123456789/11663	-
dc.description	Películas delgadas de BaxSr1-xTiO3 han sido depositadas sobre sustratos de Pt/TiO2/SiO2/Si y cuarzo por RF sputtering con diferentes radios de BaTiO3/SrTiO3. Las películas fueron depositadas a 700 °C. La composición química fueron determinadas por EDS, y los resultados muestran que x fue controlado con 0< x < 1. La caracterización ferroeléctrica muestra que su respuesta ferroeléctrica esta en función del parámetro x.	-
dc.description	Articulo en extenso en memoria de simposio	-
dc.description	Instituto Politecnico Nacional.	-
dc.language	es	-
dc.publisher	Instituto Politecnico Nacional	-
dc.subject	peliculas delgadas	-
dc.title	Crecimiento y caracterización de películas delgadas de BaxSr1-xTiO3	-
dc.type	Article	-
Aparece en las colecciones:	Doctorado

Ficheros en este ítem:

Fichero	Descripción	Tamaño	Formato
libro3sta_50.pdf		344.9 kB	Adobe PDF	Visualizar/Abrir

El Instituto Politécnico Nacional